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名稱：LED芯片顆粒視覺計(jì)數(shù)儀 簡(jiǎn)介：該套儀器通過高速的圖像獲取及視覺識(shí)別處理來鑒別LED芯片的顆粒計(jì)數(shù)問題。用于LED芯片外延片面積測(cè)試，同樣適用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等拋光片外延片的面積測(cè)試。 性能參數(shù)： 1．成像特性　　 鏡頭：4.5～10mm可變焦、F1.6、1/2”C接口的高保真光學(xué)鏡頭 CMOS規(guī)格：500萬像素，真彩 像素分辨率：0.045mm 　　 對(duì)焦方式：手動(dòng)對(duì)焦；　　 圖像觀察：具有圖像亮度、對(duì)比度、飽和度調(diào)整功能，調(diào)整值自動(dòng)記憶保存，具有任意放大、縮小、局部觀察功能 2．檢測(cè)性能： 有效視野：30～150mm 　　 軟件自動(dòng)計(jì)數(shù)功能：可計(jì)數(shù)芯片二極管數(shù)量和紅、綠、藍(lán)等各色LED芯片顆粒總數(shù)，顯示和統(tǒng)計(jì)計(jì)數(shù)結(jié)果　　 適用芯片尺寸：4寸以下,透明/不透明LED芯片, 芯片顆粒規(guī)格≥5mil (或0.127mm)均可 計(jì)數(shù)速度：6～20萬LED芯片/秒 計(jì)數(shù)誤差≤0.1‰ 最大芯片計(jì)數(shù)量≥20萬pcs